完全空冷で超小型の
−40℃、+250℃、ダイレクト測光の
素子用小型恒温槽RK-10207P
最低温度-４０℃、最高温度+２５０℃を新たに実現した革新的小型恒温槽です。
従来のRK-10207P小型恒温槽（弊社製）より、更に対応温度範囲が拡張し、発光素子やＩＣ等を過酷な温度環境まで急速冷却/加熱して、抜取試験・特性試験・寿命試験等の作業時間を大幅短縮します。ダイレクト輝度測定が必要なLCD、OLED、LED等の発光表示パネルや発光素子、大型ICモジュール、LSI等を急速冷却/加熱します。
仕様：
●−４０℃低温対応、＋２５０℃高温対応で、 ＩＣや発光素子の短時間温度試験に最適。
●制御温度範囲：V1) −４０℃〜＋１５０℃、
V2) 室温〜＋２５０℃、他
●制御温度精度：±0.5℃/100℃以下､±2℃/他
●対応素子サイズ：100x70mm又は60x60mm。
●光透過型で大面積なので、従来の恒温槽と異なり、温度、電源条件等を変更して、輝度測定や、種々の特性試験を簡単に実施できます。
●[寸法] ﾃｽﾄﾍｯﾄﾞ部:170Wx190Dx200Hmm、電源･制御部:95x350x240mm
●[速度] +25 〜-40℃: 約10分, +25dC〜+250℃: 約15分
アプリケーション例：
１）ミル規格高速温度試験： -40〜+85℃対応で素子の高速温度特性検査。
２）LED･OLED寿命試験： 寿命試験器と組合せパネル･素子の加速寿命試験。
３）マルチ温度試験： 複数の小型恒温槽RK-10207Pのテストヘッド部をＸＹステージに搭載し、別々の温度に設定した複数の発光素子を同時に冷却/加熱し、個別温度での寿命試験・環境試験も可能。
この恒温槽RK-10207Pは、独自設計のペルチェ素子タイプで、冷却加熱テストヘッド＋電源制御部で構成します。上図はテストヘッド部です。（制御温度範囲及び速度は、このテストヘッド単体動作時の金属テストヘッド表面のもので、測定対象を搭載時には多少異なることがあります。）温度設定はＰＣから行い、単体でリアルタイム温度表示し、ＰＣ上でも、温度表示／温度ログができます。
制御温度範囲や素子搭載ヘッド寸法はカスタマイズ可能です。 K70612