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−40℃、+250℃、ダイレクト測光の
■ 素子用小型恒温槽 ＲＫ−１０２０７Ｐ ■


「テストヘッド部」		 最低温度−40℃、最高温度+２５０℃を実現した革新的小型恒温槽です。
従来のＲＫ−１０２０７Ｐ 小型恒温槽より、更に対応温度範囲が拡張子、発光素子やＩＣ等を過酷な温度環境まで急速冷却／加熱して、抜き取り試験･特性試験･寿命試験等の作業時間を大幅短縮します。
ダイレクト輝度測定が必要な　ＬＣＤ、ＯＬＥＤ、ＬＥＤ等の発光表示パネルや発行素子、 大型ICモジュール、LSI等を急速冷却／加熱します。

仕様：
●−４０℃低温対応、−２５０℃高温対応で、ＩＣや発行素子の短時間温度試験に最適。
●制御温度範囲：ｖ1)：−４０℃〜＋１５０℃
　　　　　　　　　　　v2)：室温〜＋２５０℃、他
●制御温度精度：±０．５℃／１００℃以下､±２℃/他
●対応素子サイズ：１００ｘ７０ｍｍ　又は　６０ｘ６０ｍｍ
●光透過型で大面積なので、従来の恒温槽と異なり、温度、電源条件等を変更して、輝度測定や、種々の特性試験を簡単に実施できます。

●[寸法] テストヘッド部:170Wx190Dx200Hmm,
　　　　　 電源制御部：95ｘ350ｘ240mm
:●[速度] +25 〜 -40℃: 約１０分, +25 〜+250℃: 約１５分

アプリケーション例：

１）ミル規格高速温度試験： -40〜+85℃対応で素子の高速温度特性検査。
２）LED･OLED寿命試験： 寿命試験器と組合せパネル･素子の加速寿命試験。
３）マルチ温度試験： 複数の小型恒温槽RK-10207Pのテストヘッド部をＸＹステージに搭載し、別々の温度に設定した複数の発光素子を同時に冷却/加熱し、個別温度での寿命試験・環境試験も可能。

この恒温槽RK-10207Pは、独自設計のペルチェ素子タイプで、冷却加熱テストヘッド＋電源制御部で構成します。
上図はテストヘッド部です。（制御温度範囲及び速度は、このテストヘッド単体動作時の金属テストヘッド表面のもので、測定対象を搭載時には多少異なることがあります。）
温度設定はＰＣから行い、単体でリアルタイム温度表示し、ＰＣ上でも、温度表示／温度ログができます。
制御温度範囲や素子搭載ヘッド寸法はカスタマイズ可能です。


価格や仕様は予告なしに変更される場合がありますのでご了承下さい。また不正確な情報や記載漏れ･誤りに関して弊社は責任を負うものではありません。